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Problems of advanced micro- and nanoelectronic systems development - 最新文献
Improving the Efficiency of Automated Monolithic Integrated Circuits Visual Inspection Algorithm
Pub Date : 1900-01-01 DOI: 10.31114/2078-7707-2022-4-56-62 B. Shiryaev, D. ArgunovComplex Standard Cells Design Features in Advanced FinFET Technologies
Pub Date : 1900-01-01 DOI: 10.31114/2078-7707-2022-1-35-42 V. Kalashnikov, M. Y. SemenovRegister Duplication for Scan Designs
Pub Date : 1900-01-01 DOI: 10.31114/2078-7707-2019-2-18-24 M. S. Ladnushkin
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