查看最新文献
订阅
分享
1399发文信息
历年影响因子
历年发表
投稿信息
2014 International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS) - 最新文献
A semi-distributed method for inductor de-embedding
Pub Date : 2014-06-23 DOI: 10.1109/ICMTS.2014.6841482 J. Dang, A. Noculak, F. Korndorfer, C. Jungemann, B. MeinerzhagenTest structure to evaluate the impact of neighboring features on stress of metal interconnects
Pub Date : 2014-03-24 DOI: 10.1109/ICMTS.2014.6841495 Brad Smith, M. ShroffAccurate modeling of dynamic variability of SRAM cell in 28 nm FDSOI technology
Pub Date : 2014-03-24 DOI: 10.1109/ICMTS.2014.6841466 J. El Husseini, A. Subirats, X. Garros, A. Makoseij, O. Thomas, G. Reimbold, V. Huard, F. Cacho, X. Federspiel
免责声明：
本页显示期刊或杂志信息，仅供参考学习，不是任何期刊杂志官网，不涉及出版事务，特此申明。如需出版一切事务需要用户自己向出版商联系核实。若本页展示内容有任何问题，请联系我们，邮箱：info@booksci.cn，我们会认真核实处理。
本页显示期刊或杂志信息，仅供参考学习，不是任何期刊杂志官网，不涉及出版事务，特此申明。如需出版一切事务需要用户自己向出版商联系核实。若本页展示内容有任何问题，请联系我们，邮箱：info@booksci.cn，我们会认真核实处理。
京公网安备 11010802042870号
