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2014 International Conference on Microelectronic Test Structures (ICMTS) - 最新文献
A semi-distributed method for inductor de-embedding
Pub Date : 2014-06-23 DOI: 10.1109/ICMTS.2014.6841482 J. Dang, A. Noculak, F. Korndorfer, C. Jungemann, B. MeinerzhagenTest structure to evaluate the impact of neighboring features on stress of metal interconnects
Pub Date : 2014-03-24 DOI: 10.1109/ICMTS.2014.6841495 Brad Smith, M. ShroffAccurate modeling of dynamic variability of SRAM cell in 28 nm FDSOI technology
Pub Date : 2014-03-24 DOI: 10.1109/ICMTS.2014.6841466 J. El Husseini, A. Subirats, X. Garros, A. Makoseij, O. Thomas, G. Reimbold, V. Huard, F. Cacho, X. Federspiel
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