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Proceedings ETC 93 Third European Test Conference - 最新文献
Essential testability guidelines for current technology
Pub Date : 1993-04-19 DOI: 10.1109/ETC.1993.246563 J. PhillipsA new DFT technique to reduce test duration for sequential circuits
Pub Date : 1993-04-19 DOI: 10.1109/ETC.1993.246598 Y. Bertrand, F. Bancel, M. RenovellOn scan path design for stuck-open and delay fault detection
Pub Date : 1993-04-19 DOI: 10.1109/ETC.1993.246553 J. Leenstra, M. Koch, T. Schwederski
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