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Proceedings First Asian Test Symposium (ATS `92) - 最新文献
Quiescent current testing of combinational circuits with bridging faults
Pub Date : 1992-11-26 DOI: 10.1109/ATS.1992.224437 M. Roca, A. RubioA method of diagnosing logical faults in combinational circuits
Pub Date : 1992-11-26 DOI: 10.1109/ATS.1992.224413 K. Yamazaki, T. YamadaMinimum verification test set for combinational circuit
Pub Date : 1992-11-26 DOI: 10.1109/ATS.1992.224428 H. Michinishi, T. Yokohira, T. Okamoto
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