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2007 44th ACM/IEEE Design Automation Conference - 最新文献
Reliability Analysis for Flexible Electronics: Case Study of Integrated a-Si:H TFT Scan Driver
Pub Date : 2008-08-01 DOI: 10.1145/1389089.1389092 Tsung-Ching Huang, K. Cheng, Huai-Yuan Tseng, Chen-Pang KungTest Generation in the Presence of Timing Exceptions and Constraints
Pub Date : 2007-06-04 DOI: 10.1145/1278480.1278653 Dhiraj Goswami, Kun-Han Tsai, M. Kassab, J. RajskiA Provably Good Approximation Algorithm for Power Optimization Using Multiple Supply Voltages
Pub Date : 2007-06-04 DOI: 10.1145/1278480.1278698 Hung-Yi Liu, W. Lee, Yao-Wen Chang
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