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1998 Fourth International High Temperature Electronics Conference. HITEC (Cat. No.98EX145) - 最新文献
Diamond metallization for Mo electroplating
Pub Date : 1998-06-14 DOI: 10.1109/HITEC.1998.676802 P.H. Giauque, S. Gasser, M. Nicolet, E. KolawaAdvanced SPICE-modelling of 6H-SiC-JFETs including substrate effects
Pub Date : 1998-06-14 DOI: 10.1109/HITEC.1998.676800 S. Zappe, E. Obermeier, S. Sheppard, U. Schmid, V. Lauer, W. WondrakElectrical characteristics of tantalum and tantalum carbide Schottky diodes on n- and p-type silicon carbide as a function of temperature
Pub Date : 1998-06-14 DOI: 10.1109/HITEC.1998.676804 T. Jang, L. Porter
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