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2020 IEEE 2nd International Workshop on Intelligent Bug Fixing (IBF) - 最新文献
Exploring the Differences between Plausible and Correct Patches at Fine-Grained Level
Pub Date : 2020-02-01 DOI: 10.1109/IBF50092.2020.9034821 Bo Yang, Jinqiu YangCan This Fault Be Detected by Automated Test Generation: A Preliminary Study
Pub Date : 2020-02-01 DOI: 10.1109/IBF50092.2020.9034780 Hangyuan Cheng, Ping Ma, Jingxuan Zhang, J. XuanIntelligent Bug Fixing
Pub Date : 2020-02-01 DOI: 10.1109/ibf50092.2020.9034809 Xiapu Luo, Weiyi Shang, Xiaobing Sun, Tao Zhang
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