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Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium Proceedings. 1999 (IEEE Cat. No.99TH8396) - 最新文献
ESD testing of GMR heads as a function of temperature
Pub Date : 1999-09-28 DOI: 10.1109/EOSESD.1999.819077 C. Moore, A. WallashProcessable ESD control materials filled with tunable intrinsically conductive polymer nanocomposites
Pub Date : 1999-09-28 DOI: 10.1109/EOSESD.1999.819070 J. Avlyanov, M. E. Cooper, S. DahmanA study of ESD induced lockups in a semiconductor photolithography area
Pub Date : 1999-09-28 DOI: 10.1109/EOSESD.1999.818988 R. Ford-Smith, H. Barnett, G. Leal, G. Sutorius
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