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2013 14th Latin American Test Workshop - LATW - 最新文献
Vertically-stacked silicon nanowire transistors with controllable polarity: A robustness study
Pub Date : 2013-04-03 DOI: 10.1109/LATW.2013.6562673 P. Gaillardon, H. Ghasemzadeh, G. MicheliPASSAT 2.0: A multi-functional SAT-based testing framework
Pub Date : 2013-04-03 DOI: 10.1109/LATW.2013.6562675 R. Drechsler, Melanie Diepenbeck, Stephan Eggersglüß, R. WilleOn the functional test of the BTB logic in pipelined and superscalar processors
Pub Date : 2013-04-03 DOI: 10.1109/LATW.2013.6562677 D. Changdao, M. Graziano, E. Sánchez, M. Reorda, M. Zamboni, N. Zhifan
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