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Workshop Record. 1994 IEEE Radiation Effects Data Workshop - 最新文献
A radiation-hardened CMOS 177K gate array having libraries compatible with commercial ones
Pub Date : 1994-07-20 DOI: 10.1109/REDW.1994.633034 K. Ohsono, T. Kokubun, S. Morioka, M. Hirata, K. Ochi, Toshifumi Arimitu, S. Suzuki, M. Uesugi, T. Hada, T. Tamura, S. Kuboyama, S. MatsudaRadiation effects on the AT&T CBIC linear bipolar process
Pub Date : 1994-07-20 DOI: 10.1109/REDW.1994.633043 W. Combs, J. Krieg, P. Cole, B.E. EicheRadiation performance of Harris' 64K SOS SRAMs
Pub Date : 1994-07-20 DOI: 10.1109/REDW.1994.633030 W. H. Newman
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