查看最新文献
订阅
分享
2202发文信息
历年影响因子
历年发表
投稿信息
2003 Test Symposium - 最新文献
Exhaustive test of several dependable memory architectures designed by GRAAL tool
Pub Date : 2003-12-08 DOI: 10.1109/ATS.2003.1250779 F. Bertuccelli, F. Bigongiari, A. Brogna, G. D. Natale, P. Prinetto, R. SalettiComparison of open and resistive-open defect test conditions in SRAM address decoders
Pub Date : 2003-12-08 DOI: 10.1109/ATS.2003.1250818 L. Dilillo, P. Girard, S. Pravossoudovitch, A. Virazel, Simone Borri
免责声明：
本页显示期刊或杂志信息，仅供参考学习，不是任何期刊杂志官网，不涉及出版事务，特此申明。如需出版一切事务需要用户自己向出版商联系核实。若本页展示内容有任何问题，请联系我们，邮箱：info@booksci.cn，我们会认真核实处理。
本页显示期刊或杂志信息，仅供参考学习，不是任何期刊杂志官网，不涉及出版事务，特此申明。如需出版一切事务需要用户自己向出版商联系核实。若本页展示内容有任何问题，请联系我们，邮箱：info@booksci.cn，我们会认真核实处理。
京公网安备 11010802042870号
