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Proceedings of the 2005 IEEE International Workshop onAdvanced Methods for Uncertainty Estimation in Measurement, 2005. - 最新文献
Converting specifications of DSP-based instruments into data suitable for Monte Carlo uncertainty estimation methods
Pub Date : 2005-05-13 DOI: 10.1109/AMUEM.2005.1594606 N. Locci, C. Muscas, S. SulisUncertainty in optical measurement applications: a case study
Pub Date : 2005-05-13 DOI: 10.1109/TIM.2006.873802 M. Brandner, T. ThurnerFrom the absolute to uncertainty [metrology]
Pub Date : 2005-05-13 DOI: 10.1109/AMUEM.2005.1594593 D. Braudaway
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