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Annual Reliability and Maintainability Symposium. 2000 Proceedings. International Symposium on Product Quality and Integrity (Cat. No.00CH37055) - 最新文献
Learning to enhance reliability of electronic systems through effective modeling and risk assessment
Pub Date : 2000-08-06 DOI: 10.1109/RAMS.2000.816334 L. Walls, J. QuigleyEvaluating the residual risks of infusing new technologies into NASA missions
Pub Date : 2000-01-26 DOI: 10.1109/RAMS.2000.816337 S. Cornford, K. HicksReliability simulation model for systems with multiple intermediate storages
Pub Date : 2000-01-24 DOI: 10.1109/RAMS.2000.816285 H. Kortelainen, J. Salmikuukka, S. Pursio
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