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2008 ROCS Workshop [Reliability of Compound Semiconductors Workshop] - 最新文献
HBT lifetime prediction as a function of temperature
Pub Date : 2008-10-01 DOI: 10.1109/ROCS.2008.5483622 T. Henderson, J. Hitt, K. Decker, K. BuckleyUse of a transistor array to predict infant transistor mortality rate in InGaP/GaAs heterojunction bipolar transistor technology
Pub Date : 2008-10-01 DOI: 10.1109/ROCS.2008.5483621 K. Alt, T. Shirley, C. Hutchinson, M. Iwamoto, R. Yeats, B. Gierhart, M. Bonse, R. Shimon, F. Kellert, D. D'AvanzoAcceleration parameters and reliability of SiGe HBTs during long-term high-Vce operation
Pub Date : 2008-10-01 DOI: 10.1109/ROCS.2008.5483623 P. Rosenthal, B. Paine
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