2010 IEEE 25th International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems

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2010 IEEE 25th International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems - 最新文献

Pub Date : 2010-10-06 DOI: 10.1109/DFT.2010.60 Kensuke Tai, M. Kitakami

Pub Date : 2010-10-06 DOI: 10.1109/DFT.2010.54 Bijan Ansari, I. Verbauwhede

Pub Date : 2010-10-06 DOI: 10.1109/DFT.2010.38 X. Wen

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