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2006 IEEE Radiation Effects Data Workshop - 最新文献
Guide to the IEEE Radiation Effects Data Workshop
Pub Date : 2006-07-17 DOI: 10.1109/REDW.2006.295460 D. HiemstraRadiation Characteristics of a 0.11μm Modified Commercial CMOS Process
Pub Date : 2006-07-17 DOI: 10.1109/REDW.2006.295484 C. Poivey, Hak S. Kim, M. Berg, J. Forney, C. Seidleck, M. Vilchis, A. Phan, T. Irwin, K. Label, R. Saigusa, M. Mirabedini, R. Finlinson, A. Suvkhanov, V. Hornback, Jun Song, J. TungEvaluation of Worst-Case Test Conditions for SEE on Power DMOSFETs
Pub Date : 2006-07-17 DOI: 10.1109/REDW.2006.295487 S. Liu, M. Boden, H. Cao, E. Sanchez, J. Titus
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