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2019 IEEE 26th International Symposium on Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA) - 最新文献
Defect Characterization by Differential Phase Contrast Imaging Technique in Scanning Transmission Electron Microscope
Pub Date : 2019-07-01 DOI: 10.1109/IPFA47161.2019.8984823 Ching-Chun Lin, Kim HsuA Failure Analysis of a SOP IC Creep Corrosion on power module
Pub Date : 2019-07-01 DOI: 10.1109/IPFA47161.2019.8984881 Weiwei Zhang, Yuanxin Lee, Yi ZhangRepetitive-avalanche-induced Electrical Degradation and Optimization for 1.2kV 4H-SiC MOSFETs
Pub Date : 2019-07-01 DOI: 10.1109/IPFA47161.2019.8984898 Haochun Fu, Jiaxing Wei, Siyang Liu, Wangran Wu, Weifeng Sun
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