查看最新文献
订阅
分享
749发文信息
历年影响因子
历年发表
投稿信息
2012 IEEE 30th VLSI Test Symposium (VTS) - 最新文献
Enhancing testability by structured partial scan
Pub Date : 2012-04-23 DOI: 10.1109/VTS.2012.6231095 P. Wohl, J. Waicukauski, J. E. ColburnA novel method for fast identification of peak current during test
Pub Date : 2012-04-23 DOI: 10.1109/VTS.2012.6231101 Wei Zhao, S. Chakravarty, Junxia Ma, Narendra Devta-Prasanna, Fan Yang, M. TehranipoorPing-pong test: Compact test vector generation for reversible circuits
Pub Date : 2012-04-23 DOI: 10.1109/VTS.2012.6231097 M. Zamani, M. Tahoori, K. Chakrabarty
免责声明：
本页显示期刊或杂志信息，仅供参考学习，不是任何期刊杂志官网，不涉及出版事务，特此申明。如需出版一切事务需要用户自己向出版商联系核实。若本页展示内容有任何问题，请联系我们，邮箱：info@booksci.cn，我们会认真核实处理。
本页显示期刊或杂志信息，仅供参考学习，不是任何期刊杂志官网，不涉及出版事务，特此申明。如需出版一切事务需要用户自己向出版商联系核实。若本页展示内容有任何问题，请联系我们，邮箱：info@booksci.cn，我们会认真核实处理。
京公网安备 11010802042870号
