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2010 International Students and Young Scientists Workshop "Photonics and Microsystems" - 最新文献
Determination of interfacial layers in high-k nanomaterials by ADXPS measurements
Pub Date : 2010-06-25 DOI: 10.1109/STYSW.2010.5714180 Jakub Wyrodek, M. Tallarida, M. Weisheit, D. SchmeißerApplication of spectrophotometry and ellipsometry for determination of optical parameters of optical coating thin films
Pub Date : 2010-06-25 DOI: 10.1109/STYSW.2010.5714158 J. Domaradzki, S. Lis, D. Kaczmarek, S. PatelaModelling of out-of-plane losses in a 2D photonic crystal waveguiding structure fabricated by interference lithography in slow light regime
Pub Date : 2010-06-25 DOI: 10.1109/STYSW.2010.5714166 S. Lis, W. Dawidowski, M. Wielichowski, K. Ptasínski, S. Patela
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