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Proceedings International Test Conference 1998 (IEEE Cat. No.98CH36270) - 最新文献
Contactless gigahertz testing
Pub Date : 1998-10-18 DOI: 10.1109/TEST.1998.743272 W. Mertin, A. Leyk, U. Behnke, V. WittpahlA scalable architecture for VLSI test
Pub Date : 1998-10-18 DOI: 10.1109/TEST.1998.743192 E. Chang, D. Cheung, R. Huston, Jim Seaton, Gary SmithDesign for soft-error robustness to rescue deep submicron scaling
Pub Date : 1998-10-18 DOI: 10.1109/TEST.1998.743332 M. Nicolaidis
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