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2012 IEEE AUTOTESTCON Proceedings - 最新文献
A new class of test instrument: The FPGA based module
Pub Date : 2013-08-01 DOI: 10.1109/MIM.2013.6572948 P. B. KellyWhere's the beer? A paradigm shift in flight-line armament testing
Pub Date : 2013-08-01 DOI: 10.1109/MIM.2013.6572955 L. GuttermanBoundary scan as a system-level diagnostic tool
Pub Date : 2013-08-01 DOI: 10.1109/MIM.2013.6572946 L. Ungar
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