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Electrical Contacts - 2000. Proceedings of the Forty-Sixth IEEE Holm Conference on Electrical Contacts (Cat. No.00CB37081) - 最新文献
Modeling of vacuum reed failure by using finite element method
Pub Date : 2000-09-25 DOI: 10.1109/HOLM.2000.889920 Liang-jun Xu, Ji-gao Zhang, B. MiedzinskiContact stress relaxation and resistance change relationships in accelerated heat age testing
Pub Date : 2000-09-25 DOI: 10.1109/HOLM.2000.889906 K. L. Beach, V. PascucciSliding wear experiments on clad gold-nickel material systems lubricated with a 6-ring polyphenyl ether
Pub Date : 2000-09-25 DOI: 10.1109/HOLM.2000.889909 N. Aukland, H. Hardee, P. Lees
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