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2013 IEEE 31st VLSI Test Symposium (VTS) - 最新文献
Path selection based on static timing analysis considering input necessary assignments
Pub Date : 2013-06-27 DOI: 10.1109/VTS.2013.6548902 Bo Yao, Arani Sinha, I. PomeranzEnhanced algorithm of combining trace and scan signals in post-silicon validation
Pub Date : 2013-04-29 DOI: 10.1109/VTS.2013.6548915 Kihyuk Han, Joon-Sung Yang, J. AbrahamSpecial session 11B: Hot topic on-chip clocking — Industrial trends
Pub Date : 2013-04-29 DOI: 10.1109/VTS.2013.6548942 A. Chandra
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