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2004 Proceedings. 54th Electronic Components and Technology Conference (IEEE Cat. No.04CH37546) - 最新文献
Calibration of near field measurements using microstrip line for noise predictions
Pub Date : 2004-06-01 DOI: 10.1109/ECTC.2004.1320301 K. Srinivasan, H. Sasaki, M. Swaminathan, R. TummalaDevelopment of low-k interlayer dielectric film for embedded passives and actives integral substrates
Pub Date : 2004-06-01 DOI: 10.1109/ECTC.2004.1319388 K. Uwada, Y. NittoUnderfill characterization for low-k dielectric / Cu interconnect IC flip-chip package reliability
Pub Date : 2004-06-01 DOI: 10.1109/ECTC.2004.1319423 P. Tsao, Chender Huang, M. Lii, B. Su, N. Tsai
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