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2002 Conference on Optoelectronic and Microelectronic Materials and Devices. COMMAD 2002. Proceedings (Cat. No.02EX601) - 最新文献
Study of edge charge trapping in gate oxide caused by FN and hot-carrier injection
Pub Date : 2002-12-11 DOI: 10.1109/COMMAD.2002.1237277 Jiayi Huang, T.P. Chen, M. S. TseEnhancement of THz emission from semiconductor devices
Pub Date : 2002-12-11 DOI: 10.1109/COMMAD.2002.1237246 A. Dowd, M. Johnston, D. Whittaker, A. Davies, E. LinfieldEvidence for crystalline silicon oxide growth on thin silicon
Pub Date : 2002-12-11 DOI: 10.1109/COMMAD.2002.1237280 E. Cho, M. Green, J. Xia, R. Corkish
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