High Pressure Research

High Pressure Research
期刊缩写:
High Pressure Res.
影响因子:
1.2
ISSN:
print: 0895-7959
on-line: 1477-2299
研究领域:
物理-物理:综合
创刊年份:
1988年
h-index:
39
自引率:
5.00%
Gold OA文章占比:
12.33%
原创研究文献占比:
90.48%
SCI收录类型:
Science Citation Index Expanded (SCIE) || Scopus (CiteScore)
期刊介绍英文:
High Pressure Research is the leading journal for research in high pressure science and technology. The journal publishes original full-length papers and short research reports of new developments, as well as timely review articles. It provides an important forum for the presentation of experimental and theoretical advances in high pressure science in subjects such as: condensed matter physics and chemistry geophysics and planetary physics synthesis of new materials chemical kinetics under high pressure industrial applications shockwaves in condensed matter instrumentation and techniques the application of pressure to food / biomaterials Theoretical papers of exceptionally high quality are also accepted.
CiteScore:
CiteScoreSJRSNIPCiteScore排名
3.80.6420.762
学科
排名
百分位
大类:Physics and Astronomy
小类:Condensed Matter Physics
194 / 434
55%
发文信息
中科院SCI期刊分区
大类 小类 TOP期刊 综述期刊
4区 物理与天体物理
4区 物理:综合 PHYSICS, MULTIDISCIPLINARY
WOS期刊分区
学科分类
Q3PHYSICS, MULTIDISCIPLINARY
历年影响因子
2015年1.0140
2016年1.0590
2017年1.9250
2018年1.2550
2019年1.3150
2020年1.4310
2021年1.5930
2022年2.0000
2023年1.2000
历年发表
2012年72
2013年109
2014年54
2015年46
2016年55
2017年53
2018年40
2019年71
2020年41
2021年31
2022年15
投稿信息
出版周期:
Quarterly
出版语言:
English
出版国家(地区):
ENGLAND
接受率:
100%
审稿时长:
2 months
出版商:
Taylor and Francis Ltd.
编辑部地址:
TAYLOR & FRANCIS LTD, 4 PARK SQUARE, MILTON PARK, ABINGDON, ENGLAND, OXON, OX14 4RN

High Pressure Research - 最新文献

Synchrotron x-ray diffraction and DFT study of non-centrosymmetric EuRhGe3 under high pressure

Pub Date : 2024-09-04 DOI: 10.1080/08957959.2024.2396298 N. S. Dhami, V. Balédent, I. Batistić, O. Bednarchuk, D. Kaczorowski, J. P. Itié, S. R. Shieh, C. M. N. Kumar, Y. Utsumi

EBS status of the large-volume press at beamline ID06-LVP

Pub Date : 2024-07-30 DOI: 10.1080/08957959.2024.2379354 Wilson A. Crichton, Andrew R. Thomson, Anja Rosenthal, Kristina Spektor, Dmitrii Druzhbin, Bjoern Winkler, Marcus Schwarz, Pierre Wattecamps, Jérôme Kieffer, Ricardo Hino, Denis van Brussel, Romain Garlet, Yves Watier, Thomas Roth, Gilles Berruyer, Valentin Valls, Anthony Mauro, Marie Ruat, Vincent Favre-Nicolin, Roberto Verbeni

Extreme conditions X-ray diffraction and imaging beamline ID15B on the ESRF extremely brilliant source

Pub Date : 2024-07-29 DOI: 10.1080/08957959.2024.2379294 Gaston Garbarino, Micheal E. Hanfland, Samuel Gallego-Parra, Angelika Dorothea Rosa, Mohamed Mezouar, Denis Duran, Keith Martel, Emmanuel Papillon, Thomas Roth, Pierrick Got, Jer. Jacobs
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