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1995 International Symposium on VLSI Technology, Systems, and Applications. Proceedings of Technical Papers - 最新文献
Assessment of uniform and non-uniform damage in plasma etched submicron transistors
Pub Date : 1995-05-31 DOI: 10.1109/VTSA.1995.524633 T. Brożek, X.-Y. Li, F. Preuninger, Y. Chan, C. ViswanathanEffects of stress-induced mismatches on CMOS analog circuits
Pub Date : 1995-05-31 DOI: 10.1109/VTSA.1995.524719 R. Jaeger, R. Ramani, J.C. SulingWeak avalanche model for SOI and cryogenic analog circuits
Pub Date : 1995-05-31 DOI: 10.1109/VTSA.1995.524653 J. Lai, K. P. Beaudoin
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