2023 IEEE/ACM 8th International Workshop on Metamorphic Testing (MET)
2023 IEEE/ACM 8th International Workshop on Metamorphic Testing (MET) - 最新文献
Pub Date : 2023-05-01
DOI: 10.1109/MET59151.2023.00009
Yifan Zhang, D. Towey, M. Pike, J. Han, George Zhou, Chenghao Yin, Qian Wang, Chen Xie
Pub Date : 2023-05-01
DOI: 10.1109/MET59151.2023.00010
Riley Underwood, Q. Luu, Huai Liu
Pub Date : 2023-05-01
DOI: 10.1109/MET59151.2023.00008
Muhammad Iqbal
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