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2022 IEEE International Test Conference in Asia (ITC-Asia) - 最新文献
Effective Switching Probability Calculation to Locate Hotspots in Logic Circuits
Pub Date : 2022-08-01 DOI: 10.1109/ITCAsia55616.2022.00018 Taiki Utsunomiya, Ryu Hoshino, K. Miyase, Shyue-Kung Lu, X. Wen, S. KajiharaA Decision Tree-Based Screening Method for Improving Test Quality of Memory Chips
Pub Date : 2022-08-01 DOI: 10.1109/ITCAsia55616.2022.00014 Ya-Chi Cheng, Pai-Yu Tan, Cheng-Wen Wu, Ming-Der Shieh, Chien-Hui Chuang, Gordon LiaoTesting and Reliability of Computing-In Memories: Solutions and Challenges
Pub Date : 2022-08-01 DOI: 10.1109/ITCAsia55616.2022.00020 Jin-Fu Li
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