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2012 International Silicon-Germanium Technology and Device Meeting (ISTDM) - 最新文献
Morphology Evolution of Epitaxial SiGe in Patterns
Pub Date : 2012-06-04 DOI: 10.1109/ISTDM.2012.6222455 B. Seiss, D. DutartreHigh Performance Ge Photodetectors and Si Modulators for Integrated Photonics
Pub Date : 2012-06-04 DOI: 10.1109/ISTDM.2012.6222474 L. Vivien, D. Marris-Morini, M. Ziebell, G. Rasigade, P. Crozat, E. Cassan, J. Hartmann, J. FédéliHigh-κ Gate Dielectrics for Ge CMOS and Related Memory Devices
Pub Date : 2012-06-04 DOI: 10.1109/ISTDM.2012.6222459 A. Chin, P. C. Chen, C. H. Cheng, Y. H. Wu, X. Liu, J. Kang
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