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2016 IEEE 62nd Holm Conference on Electrical Contacts (Holm) - 最新文献
Electrical and structural mapping of friction induced defects in graphene layers
Pub Date : 2016-10-09 DOI: 10.1109/HOLM.2016.7780010 P. Chrétien, S. Noël, A. Jaffré, F. Houzé, D. Brunei, J. NjeimInfluence of systematic coefficient of thermal expansion (CTE) variations on Sn whiskering
Pub Date : 2016-10-01 DOI: 10.1109/HOLM.2016.7780033 E. K. Snipes, G. Flowers, M. BozackTemperature distribution in ablation controlled switching arcs using optical emission spectroscopy
Pub Date : 2016-10-01 DOI: 10.1109/HOLM.2016.7780004 J. Mannekutla, R. Bianchetti, Andreas Friberg, T. Delachaux, P. Sutterlin
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