2022 IEEE/ACM 7th International Workshop on Metamorphic Testing (MET)
2022 IEEE/ACM 7th International Workshop on Metamorphic Testing (MET) - 最新文献
Pub Date : 2022-05-01
DOI: 10.1145/3524846.3527341
Q. Luu, Huai Liu, T. Chen, Hai L. Vu
Pub Date : 2022-05-01
DOI: 10.1145/3524846.3527340
Brook Stacy, Jason Hauzel, Mikael Lindvall, Adam Porter, Mihai Pop
Pub Date : 2022-05-01
DOI: 10.1145/3524846.3527338
Sergio Segura, J. Alonso, Alberto Martin-Lopez, Amador Durán Toro, J. Troya, Antonio Ruiz-Cortés
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