查看最新文献
订阅
分享
654发文信息
历年影响因子
历年发表
投稿信息
1998 GaAs Reliability Workshop. Proceedings (Cat. No.98EX219) - 最新文献
Process reliability qualification experiences during a fab relocation
Pub Date : 1998-11-01 DOI: 10.1109/GAASRW.1998.768031 W. Roesch, S. Bumgarner, L.O. Monaghan, T. Rubalcava, D. Riley, D. Cruse, J. CartwrightDielectric breakdown, defects and reliability in SiN MIMCAPs
Pub Date : 1998-11-01 DOI: 10.1109/GAASRW.1998.768043 J. Scarpulla, E.D. Ahlers, D.C. Eng, D. Leung, S. Olson, Chan-Shin WuLow-cost high-performance DC plus RF accelerated life-test system
Pub Date : 1998-11-01 DOI: 10.1109/GAASRW.1998.768030 D. Whitefield, R. Khanna
免责声明：
本页显示期刊或杂志信息，仅供参考学习，不是任何期刊杂志官网，不涉及出版事务，特此申明。如需出版一切事务需要用户自己向出版商联系核实。若本页展示内容有任何问题，请联系我们，邮箱：info@booksci.cn，我们会认真核实处理。
本页显示期刊或杂志信息，仅供参考学习，不是任何期刊杂志官网，不涉及出版事务，特此申明。如需出版一切事务需要用户自己向出版商联系核实。若本页展示内容有任何问题，请联系我们，邮箱：info@booksci.cn，我们会认真核实处理。
京公网安备 11010802042870号
