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International Electron Devices Meeting 1999. Technical Digest (Cat. No.99CH36318) - 最新文献
Accurate thermal noise model for deep-submicron CMOS
Pub Date : 1999-12-05 DOI: 10.1109/IEDM.1999.823868 A. Scholten, H. J. Tromp, L. Tiemeijer, R. V. Langevelde, R. Havens, P.H.W. de Vreede, R. Roes, P. Woerlee, A. Montree, D. KlaassenConsumer electronics as silicon engine
Pub Date : 1999-12-05 DOI: 10.1109/IEDM.1999.823835 R. KramerUltra low capacitance measurements in multilevel metallisation CMOS by using a built-in electron-meter
Pub Date : 1999-12-05 DOI: 10.1109/IEDM.1999.824293 B. Froment, F. Paillardet, M. Bely, J. Cluzel, E. Granger, M. Haond, L. Dugoujon
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