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2017 International Mixed Signals Testing Workshop (IMSTW) - 最新文献
Analytical study of on-chip generations of analog sine-wave based on combined digital signals
Pub Date : 2017-07-03 DOI: 10.1109/IMS3TW.2017.7995205 S. David-Grignot, Achraf Lamlih, V. Kerzérho, F. Azais, F. Soulier, S. Bernard, T. Rouyer, S. BonhommeauA dimensionality-reduction method for test data
Pub Date : 2017-07-01 DOI: 10.1109/IMS3TW.2017.7995209 M. Denguir, S. SattlerReliability of 3D-printed dynamic scanners
Pub Date : 2017-07-01 DOI: 10.1109/IMS3TW.2017.7995204 B. Gönültas, Sacid Aygün, R. Khayatzadeh, F. Çivitci, Y. D. Gökdel, M. B. Yelten, O. Ferhanoğlu
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