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2021 IEEE Physical Assurance and Inspection of Electronics (PAINE) - 最新文献
Attacks and Countermeasures for Capacitive PUF-Based Security Enclosures
Pub Date : 2021-11-30 DOI: 10.1109/PAINE54418.2021.9707704 Kathrin Garb, M. Schink, Matthias Hiller, J. ObermaierDeep Learning-Based Approaches for Text Recognition in PCB Optical Inspection: A Survey
Pub Date : 2021-11-30 DOI: 10.1109/PAINE54418.2021.9707712 Shajib Ghosh, Mukhil Azhagan Mallaiyan Sathiaseelan, N. AsadizanjaniAutomated Trace and Copper Plane Extraction of X-ray Tomography Imaged PCBs
Pub Date : 2021-11-30 DOI: 10.1109/PAINE54418.2021.9707715 Ulbert J. Botero, F. Ganji, D. Woodard, Domenic Forte
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