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2016 IEEE 25th North Atlantic Test Workshop (NATW) - 最新文献
Using Existing Reconfigurable Logic in 3D Die Stacks for Test
Pub Date : 2016-05-09 DOI: 10.1109/NATW.2016.15 Fanchen Zhang, Yi Sun, Xinzi Shen, Kundan Nepal, Jennifer Dworak, T. Manikas, P. Gui, R. I. Bahar, A. Crouch, John C. PotterCase Study of Testing a SoC Design with Mixed EDT Channel Sharing and Channel Broadcasting
Pub Date : 2016-05-09 DOI: 10.1109/NATW.2016.10 Xiao Liu, Changkai Yu, Yu Qi, Yu Huang, James FuEnabling Debug in IoT Wireless Development and Deployment with Security Considerations
Pub Date : 2016-05-09 DOI: 10.1109/NATW.2016.16 Amirhossein Shahshahani, Andrey Tolstikhin, Z. Zilic
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