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2011 IEEE Radiation Effects Data Workshop - 最新文献
Guide to the 2010 IEEE Radiation Effects Data Workshop Record
Pub Date : 2010-07-01 DOI: 10.1109/REDW.2010.6062518 D. HiemstraA Summary of Single Event Upset Testing of CD4000 Series Devices
Pub Date : 2010-07-01 DOI: 10.1109/REDW.2010.6062505 R. E. Lombardi, A. Bogorad, J. Likar, Aaron S. Rubin, C. F. CamachoSingle Event Sensitivity of High-Speed Differential Signaling Devices to Heavy Ions and Protons
Pub Date : 2010-07-01 DOI: 10.1109/REDW.2010.6062533 R. Koga, J. George, S. Bielat, P. Yu
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