Single-Event Effects and Corresponding Nanoscale Microstructure in β-Ga?O? UMOSFETs: Device Reliability and Failure Mechanism

待确认 20 由大炮冲冲冲发布于 2026/6/17 18:57:45

DOI:10.1109/ISPSD64561.2026.11553696
文献类型：期刊论文
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Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)

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7小时前

Rye

202606172008054622063.pdf

9小时前

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9小时前

大炮冲冲冲发布求助

上一个求助:其它数据库Naturally Fractured Carbonate Reservoir Characterization: A Case Study of a Mature High-Pour Point Oil Field in Hungary 下一个求助:MDPIMicrostructure and Thermal Analysis of Metastable Intermetallic Phases in High-Entropy Alloy CoCrFeMo<sub>0.85</sub>Ni.