Deep Item Response Theory as a Novel Test Theory Based on Deep Learning

已完结 10 由 FN[QV 发布于 2024/10/29 9:36:48
DOI:10.3390/ELECTRONICS10091020
作者:E. Tsutsumi,?Ryo Kinoshita,?M. Ueno
文献类型:期刊论文
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文献链接:https://doi.org/10.3390/ELECTRONICS10091020
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