用于金属-半导体-金属系统电性能研究的I-V曲线继电器的设计与构造

Víctor Toranzos, Lucy Valdez, Guillermo Ortiz
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摘要

考虑到市场上常用的工作电子电路所获得的线性响应,我们提出了一种有效地获得分层金属-介质系统I-V响应图的装置的设计和构造。主要部件是安装在ARDUINO NANO (μC)[1]开发板上的ATMEGA 328微控制器。这个设备,我们relevador来源包括从μC控制紧张脉冲宽度调制(PWM) 8位精准最大值10 V,传感器输出电压10位规模最大和10 V和传感器的10位停靠2手动电源共有值上限分别为10和100 mA。继电器由计算机(PC)通过USB总线连接的ARDUINO NANO板操作,既用于电源控制,也用于电压和电流数据采集。每次调查的数据都存储在PC上的文本文件中。输入和输出图形显示,与银行万用表比较,使我们能够验证仪器的功能和它的线性响应。
本文章由计算机程序翻译,如有差异,请以英文原文为准。
Diseño y construcción de un relevador de curvas I-V para estudio de propiedades eléctricas de sistemas metal-semiconductor-metal
Considerando la respuesta lineal que se obtiene utilizando circuitos electrónicos operacionales de uso común en el mercado, presentamos el diseño y construcción de un dispositivo para obtener en forma eficiente gráficas de respuesta I-V en sistemas estratificados del tipo metal-dieléctrico. El componente principal es un microcontrolador ATMEGA 328 montado en una placa de desarrollo ARDUINO NANO (μC) [1]. Este dispositivo, que denominamos relevador, consiste en una fuente de tensión controlada desde el μC por modulación de ancho de pulso (PWM) con una precisión de 8 bits y máxima salida de 10 V, sensor de tensión de 10 bits y máximo de escala de 10 V y sensor de corriente de 10 bits con dos escalas manualmente seleccionables con valores máximos de 10 y 100 mA respectivamente. El relevador es operado por una computadora (PC) a través de la placa ARDUINO NANO conectado vía bus USB, tanto para el control de la fuente como para la adquisición de datos de tensión y corriente. Los datos de cada relevamiento son almacenados en un archivo de texto de la PC. Se muestran graficas de entrada y salida que comparadas con un multímetro de banco nos permiten verificar el funcionamiento del instrumento y su respuesta lineal.
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