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Leakage Power Reduction and Analysis of CMOS Sequential Circuits

Symposium on VLSI Circuits : [proceedings]. Symposium on VLSI Circuits Pub Date : 2012-02-29 DOI:10.5121/VLSIC.2012.3102
M. Rani
{"title":"Leakage Power Reduction and Analysis of CMOS Sequential Circuits","authors":"M. Rani","doi":"10.5121/VLSIC.2012.3102","DOIUrl":null,"url":null,"abstract":"","PeriodicalId":74899,"journal":{"name":"Symposium on VLSI Circuits : [proceedings]. Symposium on VLSI Circuits","volume":"15 1","pages":"13-23"},"PeriodicalIF":0.0000,"publicationDate":"2012-02-29","publicationTypes":"Journal Article","fieldsOfStudy":null,"isOpenAccess":false,"openAccessPdf":"","citationCount":"37","resultStr":null,"platform":"Semanticscholar","paperid":null,"PeriodicalName":"Symposium on VLSI Circuits : [proceedings]. Symposium on VLSI Circuits","FirstCategoryId":"1085","ListUrlMain":"https://doi.org/10.5121/VLSIC.2012.3102","RegionNum":0,"RegionCategory":null,"ArticlePicture":[],"TitleCN":null,"AbstractTextCN":null,"PMCID":null,"EPubDate":"","PubModel":"","JCR":"","JCRName":"","Score":null,"Total":0}
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