Heavy Ion and Proton Induced Radiation Effects on Commercial Analog Switch Microcircuits

2016 IEEE Radiation Effects Data Workshop (REDW) Pub Date : 1900-01-01 DOI:10.1109/NSREC.2016.7891715

R. Koga, J. George, S. Davis, B. Buck, K. Bojanowski, A. Cunningham

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Abstract

We present observations of heavy ion and proton induced radiation effects on selected COTS analog switch integrated microcircuits.

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