A Rapid Link Analysis Technique Using Four-Port Scattering Parameters

2007 IEEE Electrical Performance of Electronic Packaging Pub Date : 2007-11-21 DOI:10.1109/EPEP.2007.4387188

B. McCoy, J. Coker, R. Techentin, B. Gilbert, E. Daniel

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Abstract

A rapid link analysis technique is presented which simulates link performance using 4-port S-parameter models and pseudorandom driver stimulus. The mathematical technique and validation through simulation and hardware measurements of eye diagrams are presented.

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基于四端口散射参数的快速链路分析技术

提出了一种基于4端口s参数模型和伪随机驱动刺激的快速链路分析技术。给出了眼图的数学方法，并通过仿真和硬件测试进行了验证。

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2007 IEEE Electrical Performance of Electronic Packaging

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