Characterization and Physical Modeling of Endurance in Embedded Non-Volatile Memory Technology

2011 3rd IEEE International Memory Workshop (IMW) Pub Date : 2011-05-22 DOI:10.1109/IMW.2011.5873186

D. Garetto, A. Zaka, J. Manceau, D. Rideau, E. Dornel, W. Clark, A. Schmid, H. Jaouen, Y. Leblebici

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