In situ emission microscopy of scandium/scandium oxide and barium/barium oxide thin films on tungsten

2008 IEEE International Vacuum Electronics Conference Pub Date : 2008-04-22 DOI:10.1109/IVELEC.2008.4556423

J. Vaughn, M. Kordesch

引用次数: 5

Abstract

The effect of a thin Sc/Sc Oxide base layer on Ba/Ba Oxide surface diffusion, adsorption and desorption on W is studied using photoelectron emission microcopy (PEEM) and thermionic emission microscopy (ThEEM).

查看原文本刊更多论文

钨上钪/氧化钪和钡/氧化钡薄膜的原位发射显微镜研究

利用光电子发射显微镜(PEEM)和热离子发射显微镜(ThEEM)研究了Sc/Sc氧化基层对Ba/Ba氧化物表面扩散、吸附和解吸W的影响。

本文章由计算机程序翻译，如有差异，请以英文原文为准。

求助全文

约1分钟内获得全文求助全文

来源期刊

2008 IEEE International Vacuum Electronics Conference

自引率

0.00%

发文量