RADIATIONS FOR THE LIFETIME OF CHARGE CARRIERS IN SILICON DOPED WITH COPPER AND IRIDIUM

SEMOCONDUCTOR PHYSICS AND MICROELECTRONICS Pub Date : 2021-10-30 DOI:10.37681/2181-1652-019-x-2021-5-5

М.Ю. Ташметов, Ш.А. Махмудов, А.Р. Рафиков, А.А. Сулаймонов, М.Ф. Жураева, Ж.С. Мирзарайимов, Ф.З. Мирзарайимова

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掺杂铜和铱的硅中载流子寿命的辐射

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