СИСТЕМА НАНОПОЗИЦИОНИРОВАНИЯ ДЛЯ ФИЗИЧЕСКОГО ЭКСПЕРИМЕНТА

Nanoindustry Russia Pub Date : 2023-08-31 DOI:10.22184/1993-8578.2023.16.5.266.270

Д.И. Яминский, И.В. Яминский

引用次数: 0

Abstract

Разработана двухступенчатая система нанопозиционирования по трем координатам X, Y и Z с точностью до 0,1 нм. Система нанопозиционирования предназначена для использования в сканирующей зондовой микроскопии, оптической микроскопии сверхвысокого разрешения и микролинзовой микроскопии. В статье рассмотрен пример построения сканирующего капиллярного микроскопа на основе разработанной системы прецизионных перемещений.

查看原文本刊更多论文

物理实验纳米定位系统

在三个坐标X和yz上开发了一个双级纳米定位系统，精确到0.1纳米。纳米定位系统用于扫描探测器显微镜、超高分辨率光学显微镜和微型透镜显微镜。本文介绍了一个基于开发的精密位移系统构建扫描毛细血管显微镜的例子。

本文章由计算机程序翻译，如有差异，请以英文原文为准。

求助全文

约1分钟内获得全文求助全文

来源期刊

Nanoindustry Russia

自引率

0.00%

发文量