Reliability physics and electronics design for high operating temperatures

HITEN 99. Third European Conference on High Temperature Electronics. (IEEE Cat. No.99EX372) Pub Date : 1999-07-07 DOI:10.1109/HITEN.1999.827476

B. Peat

引用次数: 0

Abstract

The collection of slides from the author's conference presentation is provided.

查看原文本刊更多论文

高工作温度下的可靠性物理和电子设计

提供了作者会议演示的幻灯片集。

本文章由计算机程序翻译，如有差异，请以英文原文为准。

求助全文

约1分钟内获得全文求助全文

来源期刊

自引率

0.00%

发文量