Particle size determination in electrical arcs with Ag and AgSnO2 electrodes using X-ray scattering

2015 IEEE 61st Holm Conference on Electrical Contacts (Holm) Pub Date : 2015-12-17 DOI:10.1109/HOLM.2015.7355075

E. Carvou, J. Le Garrec, Elsa Yee Kin Choi, J. Jouvard, M. Kerkar, J. Mitchell

引用次数: 1

Abstract

This article discusses recent synchrotron radiation based measurements of nanoparticle formation between arcing contacts. The studied material is typical in contact applications, Ag and AgSnO2.

查看原文本刊更多论文

用x射线散射法测定Ag和AgSnO2电极电弧中的粒度

本文讨论了最近基于同步辐射的弧接触之间纳米颗粒形成的测量。所研究的材料是典型的接触应用，Ag和AgSnO2。

本文章由计算机程序翻译，如有差异，请以英文原文为准。

求助全文

约1分钟内获得全文求助全文

来源期刊

2015 IEEE 61st Holm Conference on Electrical Contacts (Holm)

自引率

0.00%

发文量